发明名称 判定入射辐射之光谱发射特性
摘要 明阐述促进将一特定波长指派给一经量测光电流之光学辐射感测器及侦测技术。该等技术可用以判定一辐射源之光谱发射特性。在一项态样中,一种判定入射辐射之光谱发射特性之方法包含使用具有光学回应度特性不同于彼此之第一感光区域及第二感光区域之一光侦测器来感测该入射辐射中之至少某些入射辐射。该方法进一步包含基于来自该第一区域之一光电流与来自该第二区域之一光电流之一比率来识别该入射辐射之一波长。
申请公布号 TW201614201 申请公布日期 2016.04.16
申请号 TW104129988 申请日期 2015.09.10
申请人 海特根微光学公司 发明人 罗恩根 彼德;吉杰 珍斯;罗丝 马克斯
分类号 G01J3/28(2006.01) 主分类号 G01J3/28(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项 一种判定入射辐射之光谱发射特性之方法,该方法包括:使用具有光学回应度特性不同于彼此之第一感光区域及第二感光区域之一光侦测器来感测该入射辐射中之至少某些入射辐射;及基于来自该第一区域之一光电流与来自该第二区域之一光电流之一比率来识别该入射辐射之一波长。
地址 新加坡