发明名称 |
反射型光罩基底及其制造方法、反射型光罩及其制造方法、以及半导体装置之制造方法 |
摘要 |
明提供一种防止利用电子束检查光罩缺陷时之电荷累积并且具有平滑性较高之多层反射膜的低缺陷之反射型光罩基底、以及反射型光罩及其制造方法。
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申请公布号 |
TW201614362 |
申请公布日期 |
2016.04.16 |
申请号 |
TW104130654 |
申请日期 |
2015.09.16 |
申请人 |
HOYA股份有限公司 |
发明人 |
笑喜勉;浅川竜男;小坂井弘文 |
分类号 |
G03F1/24(2012.01) |
主分类号 |
G03F1/24(2012.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
一种反射型光罩基底,其特征在于:其系于基板上积层有导电性基底膜、反射曝光之光之多层反射膜及吸收曝光之光之吸收体膜者,并且上述导电性基底膜包含与上述多层反射膜邻接而设置且膜厚为1nm以上且10nm以下之钽系材料。
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地址 |
日本 |