| 发明名称 | 液晶显示面板切割检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种液晶显示面板切割检测方法，包括：提供一液晶显示面板母板，其中，所述液晶显示面板母板包括多个对位标记；根据所述液晶显示面板母板的多个所述对位标记，确定多条相互平行的第一切割线；沿着每一所述第一切割线进行切割，获得多条液晶显示面板子板；对每条所述液晶显示面板子板进行外观检测；以及对每条所述液晶显示面板子板进行电气检测。本实施方式中，由于没有对液晶显示面板母板进行交叉切割，可以降低裂片、线路刮伤等现象出现的概率，从而可提高显示面板单元的合格率。另外，由于是对一条一条的液晶显示面板子板进行外观和电气检测，可以提高液晶显示面板切割检测效率，从而降低生产成本。 | ||
| 申请公布号 | CN105487272A | 申请公布日期 | 2016.04.13 |
| 申请号 | CN201610024073.3 | 申请日期 | 2016.01.14 |
| 申请人 | 武汉华星光电技术有限公司 | 发明人 | 付宝琴 |
| 分类号 | G02F1/1333(2006.01)I;G09G3/00(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/1333(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人 | 郝传鑫;熊永强 |
| 主权项 | 一种液晶显示面板切割检测方法，包括：提供一液晶显示面板母板，其中，所述液晶显示面板母板包括多个对位标记；根据所述液晶显示面板母板的多个所述对位标记，确定多条相互平行的第一切割线；沿着每一所述第一切割线进行切割，获得多条液晶显示面板子板；对每条所述液晶显示面板子板进行外观检测；以及对每条所述液晶显示面板子板进行电气检测。 | ||
| 地址 | 430070 湖北省武汉市武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 | ||