发明名称 1以上の材料の測定を行うためのシステム
摘要 Systems and methods for performing measurements of one or more materials are provided. One system is configured to transfer one or more materials to an imaging volume of a measurement device from one or more storage vessels. Another system is configured to image one or more materials in an imaging volume of a measurement device. An additional system is configured to substantially immobilize one or more materials in an imaging volume of a measurement device. A further system is configured to transfer one or more materials to an imaging volume of a measurement device from one or more storage vessels, to image the one or more materials in the imaging volume, to substantially immobilize the one or more materials in the imaging volume, or some combination thereof.
申请公布号 JP5901830(B2) 申请公布日期 2016.04.13
申请号 JP20150217398 申请日期 2015.11.05
申请人 ルミネックス コーポレーション 发明人 ウェイン・ディ・ロス;エドワード・エイ・カルバン;チャールズ・ジェイ・コリンズ;ウィリアム・アール・デイチャー;ジャーデン・イー・クレイガー;アダム・アール・シルフファース;ロス・ジイ・ジョンソン;コリン・ディ・ボザース;ヴィクター・セルバラジェ;エリック・ディ・スミス;ニコラス・エフ・アラブ;ブルース・ジェイ・シイ・バーナード;ドナルド・エイ・コナー;ロバート・エス・ローチ;デイビッド・エル・スミス
分类号 G01N21/64;G01N15/00;G01N21/05 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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