发明名称 | 基于ZnO量子点检测镉离子的试剂及方法 | ||
摘要 | 本发明公开了基于ZnO量子点检测镉离子的试剂及方法。发明人研究发现,APDC修饰可以使ZnO量子点的荧光淬灭,该淬灭反应是可逆的。APDC修饰后的ZnO量子点在Cd<sup>2</sup><sup>+</sup>存在的情况下,其荧光可以恢复,荧光的恢复程度与Cd<sup>2</sup><sup>+</sup>的量正相关且不易被其他离子所干扰,具有很好地特异性。基于此,开发了一种新型的Cd<sup>2</sup><sup>+</sup>快速定量试剂和方法。本发明的检测试剂,易于制备,无毒,使用方便。本发明方法特异性高,灵敏度高,无毒,对设备要求简单,特别适用于Cd<sup>2</sup><sup>+</sup>浓度的检测。 | ||
申请公布号 | CN103901006B | 申请公布日期 | 2016.04.13 |
申请号 | CN201410118068.X | 申请日期 | 2014.03.26 |
申请人 | 华南师范大学 | 发明人 | 铁绍龙;杨晓庆;兰胜;戴峭峰 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人 | 郑莹 |
主权项 | 基于ZnO 量子点的镉离子检测试剂,所述检测试剂为荧光检测试剂,发光材料为吡咯烷二硫代氨基甲酸铵修饰的ZnO 量子点。 | ||
地址 | 510006 广东省广州市大学城华南师范大学化学与环境学院 |