发明名称 | 一种抗PID晶体硅太阳能电池制作方法 | ||
摘要 | 一种抗PID晶体硅太阳能电池的制作方法,该制作方法是通过臭氧氧化的工艺,在硅基底与氮化硅之间制作一层氧化硅层。由于臭氧的氧化能力极强,能够在硅基底表面迅速的生成一层致密氧化硅层。该氧化硅层,能够在非常薄的情况下,满足抗PID的需求,因而避免了现有技术中,由于氧化硅层过厚带来造成的减反效果降低的问题,使得本发明的太阳能电池产品完美的解决了抗PID和光利用率的矛盾问题。该薄膜具有出色的表面钝化效果,相比单一的氮化硅薄膜,其制作的电池可以获得额外的2~3mV开压的提升。本发明所涉及的制作方案工艺简单、成膜速度快,且自动控制膜厚,大大提高了整个工艺的实用性,为大规模工业化生产提供了有效的途径。 | ||
申请公布号 | CN103872184B | 申请公布日期 | 2016.04.13 |
申请号 | CN201410134437.4 | 申请日期 | 2014.04.03 |
申请人 | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 | 发明人 | 万松博;王栩生;章灵军 |
分类号 | H01L31/18(2006.01)I | 主分类号 | H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 唐灵;常亮 |
主权项 | 一种抗PID晶体硅太阳能电池的制作方法,该抗PID晶体硅太阳能电池在硅基片和氮化硅之间制作一层氧化硅,以获得抗PID的效果,其特征在于:所述氧化硅使用臭氧氧化工艺制备而成,所述臭氧氧化工艺包括步骤:1)提供一经过扩散处理后的硅基片;2)对所述硅基片进行清洗;3)将所述硅基片置于臭氧氛围中,使硅基片的扩散面在臭氧中氧化,直至该氧化动作自然停止,得到所需氧化硅层;所述臭氧由臭氧发生器提供,该臭氧的浓度为5~100ppm;所述氧化动作所需的处理时间为3s~60min,温度为15~25℃,得到的所述氧化硅层的厚度为0.6~2nm。 | ||
地址 | 215129 江苏省苏州市高新区鹿山路199号 |