发明名称 用于测试IGBT模块的装置
摘要 本发明提供一种用于测试IGBT模块的装置,该装置包括:控制器,产生用于驱动所述IGBT模块的PWM信号;上下桥臂驱动模块,将控制器产生的PWM信号转换为适合于驱动所述IGBT模块的PWM信号;IGBT耗散电流检测模块,用于检测所述IGBT模块的耗散电流;短路保护模块;防止提供至耗散电流检测模块的电源的短路并向控制器传送关于所述电源发生短路的信号。根据具有上述结构的用于测试IGBT模块的装置,能够减少系统测试成本,提供安全可靠、方便适用的测试工具和方法,从而不需要较为贵重的测试设备也能够完成IGBT的测试,对测试人员无任何触电风险,安全可靠。
申请公布号 CN103105572B 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201310030011.X 申请日期 2013.01.25
申请人 北京金风科创风电设备有限公司 发明人 岳健
分类号 G01R31/26(2014.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人 韩明星;郭鸿禧
主权项 一种用于测试IGBT模块的装置,其特征在于,包括:控制器,产生用于驱动所述IGBT模块的PWM信号;上下桥臂驱动模块,将控制器产生的PWM信号转换为适合于驱动所述IGBT模块的PWM信号;IGBT耗散电流检测模块,用于检测所述IGBT模块的耗散电流,所述耗散电流指的是IGBT操作时所消耗的电流;短路保护模块,防止提供至耗散电流检测模块的电源的短路并向控制器传送关于所述电源发生短路的信号,其中,所述短路保护模块包括短路保护单元,所述短路保护单元用于检测提供至耗散电流检测模块的电源是否发生短路,并且在发生短路时断开从供电模块至耗散电流检测模块的电源提供,其中,所述短路保护单元包括:第一电容器、第一PNP晶体管、第二PNP晶体管、第三NPN晶体管、第四MOS晶体管以及第一电阻器至第七电阻器,其中,所述第一电容器的第一端连接到所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源,第二端连接到第一电阻器的第一端;所述第一PNP晶体管的基极连接到第二电阻器的第一端,发射极连接到所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源,集电极连接到第三电阻器的第一端;所述第二PNP晶体管的基极连接到第一电容器的第二端,发射极连接到所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源,集电极连接到第一PNP晶体管的基极;所述第三NPN晶体管的基极连接到第三电阻器的第二端,发射极连接到地,集电极连接到第五电阻器的第一端;所述第四MOS晶体管的栅极连接到第五电阻器的第二端,源极连接到所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源,漏极连接到第一电阻器的第二端并作为所述短路保护单元的输出端;所述第一电阻器的第二端通过第七电阻器连接到地;所述第二电阻器的第二端接地;所述第三电阻器的第二端连接到第四电阻器的第一端;所述第四电阻器的第二端连接到地;所述第五电阻器的第二端连接到第六电阻器的第一端;所述第六电阻器的第二端连接到所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源,其中,通过作为所述短路保护单元的输出端的第四MOS晶体管的漏极向IGBT耗散电流检测模块提供所述提供给所述IGBT耗散电流检测模块的电源。
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