发明名称 一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法
摘要 本发明公开了一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法,属于信号测试领域,包括八路射频及中频通道,八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元;通过各路射频通道,生成846.4MHz的模拟信号和153.6MHz的模拟中频信号,通过各路中频通道,进行模数转换,通过FPGA控制器对最佳采样数据进行时域分析、频域分析以及调制域分析,通过测量显示单元判断测试结果是否满足期望需求。本发明通过对八路射频数据、八路中频数据的分别处理,实现非信令情况下多天线,连续及非连续载波聚合的TD_LTE_Advanced基站信号的快速分析,简化了测试手段,提高了测试效率。
申请公布号 CN105491585A 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201510888981.2 申请日期 2015.12.02
申请人 中国电子科技集团公司第四十一研究所 发明人 徐波;凌云志;王先鹏;武敬飞;杨传伟
分类号 H04W24/00(2009.01)I 主分类号 H04W24/00(2009.01)I
代理机构 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人 肖峰
主权项 一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置,其特征在于:包括八路射频及中频通道,八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元;各路射频通道均包括第一本振阵列单元、第二本振阵列单元、第一混频单元和第二混频单元;各路中频通道均包括A/D控制单元;各路射频及中频通道中,第一本振阵列单元的输出端与第一混频单元的输入端相连,第一混频单元的输出端与第二本振阵列单元的输出端和第二混频单元的输入端相连,第二混频单元的输出端与A/D控制单元的输入端相连,A/D控制单元的输出端与FPGA控制器的输入端相连;所述FPGA控制器的输出端与测量显示单元的输入端相连。
地址 233010 安徽省蚌埠市华光大道726号