发明名称 |
一种相位脉冲式激光测距的方法 |
摘要 |
本发明公开一种相位脉冲式激光测距的方法,包括以下步骤:S1,获取频率为F1MHz的第一发射脉冲信号中各种频率分量的第一相位差<img file="DDA0000914493800000011.GIF" wi="101" he="63" />及获取频率为F2MHz的第二发射脉冲信号中各种频率分量的第二相位差<img file="DDA0000914493800000012.GIF" wi="110" he="71" />S2,将所述第二相位差和所述第一相位差做差运算,获得目标测尺频率的相位差<img file="DDA0000914493800000013.GIF" wi="303" he="79" />S3,代入测距公式:<img file="DDA0000914493800000014.GIF" wi="237" he="78" />得到相应的激光测距距离L;其中,所述第一发射脉冲信号和所述第二脉冲信号的占空比均为5%-10%;F1和F2分别满足:5MHz<F1<20MHz;5MHz<F2<20MHz。本发明具有成本低、抗干扰能力强、测量速度快的优点。 |
申请公布号 |
CN105487080A |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201610051975.6 |
申请日期 |
2016.01.26 |
申请人 |
常州米德克光电科技有限公司 |
发明人 |
何友仁 |
分类号 |
G01S17/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01S17/08(2006.01)I |
代理机构 |
上海汉声知识产权代理有限公司 31236 |
代理人 |
胡晶 |
主权项 |
一种相位脉冲式激光测距的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,获取频率为F1MHz的第一发射脉冲信号中各种频率分量的第一相位差<img file="FDA0000914493770000011.GIF" wi="101" he="54" />及获取频率为F2MHz的第二发射脉冲信号中各种频率分量的第二相位差<img file="FDA0000914493770000012.GIF" wi="118" he="78" />S2,将所述第二相位差和所述第一相位差做差运算,获得目标测尺频率的相位差<img file="FDA0000914493770000013.GIF" wi="310" he="78" />S3,代入测距公式:<img file="FDA0000914493770000014.GIF" wi="234" he="79" />得到相应的激光测距距离L;其中,C为光速度,L为测距距离;所述第一发射脉冲信号和所述第二脉冲信号的占空比均为5%‑10%;所述频率为F1MHz的第一发射脉冲信号的频率范围为5MHz<F1<20MHz;所述频率为F2MHz的第二发射脉冲信号的频率范围为5MHz<F2<20MHz。 |
地址 |
213221 江苏省常州市天宁区青洋北路1号新动力创业服务中心19幢B-4号 |