发明名称 |
一种用于芯片的光刻胶剥离液、制备方法及去胶工艺 |
摘要 |
本发明涉及一种用于芯片的光刻胶剥离液、制备方法及去胶工艺,所述剥离液包括剥离剂、润湿剂、有机胺或有机铵盐、缓蚀剂、助剂和有机溶剂。所述剥离液对各种芯片具有良好的光刻胶剥离和溶解能力,能够完全去除光刻胶,无残留,此外还能保证无腐蚀,具有广泛的工业应用潜力和价值。 |
申请公布号 |
CN103676505B |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201310719197.X |
申请日期 |
2013.12.23 |
申请人 |
大连奥首科技有限公司 |
发明人 |
侯军;李波 |
分类号 |
G03F7/42(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/42(2006.01)I |
代理机构 |
北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
代理人 |
郭官厚 |
主权项 |
一种用于芯片的光刻胶剥离液,所述光刻胶剥离液包括下述重量份的各种组分:<img file="FDA0000876604500000011.GIF" wi="774" he="531" />所述剥离剂为全氟烷基乙氧基聚氧乙烯醚,其结构式为C<sub>m</sub>F<sub>2m+1</sub>CH<sub>2</sub>CH<sub>2</sub>O(C<sub>2</sub>H<sub>4</sub>O)<sub>n</sub>H,m和n均选自6‑12的整数;所述润湿剂为脂肪醇聚氧乙烯聚氧丙烯醚,结构式为R<sup>1</sup>O(C<sub>2</sub>H<sub>4</sub>O)<sub>p</sub>(C<sub>3</sub>H<sub>6</sub>O)<sub>q</sub>H,其中R<sup>1</sup>为C<sub>10</sub>‑C<sub>18</sub>的直链或支链烷基,p为4‑12之间的整数,q为4‑10之间的整数;所述缓蚀剂为6‑氯‑1‑羟基苯并三氮唑。 |
地址 |
116025 辽宁省大连市高新园区火炬路1号A座201-1 |