发明名称 用于监视工业过程的质量的方法及其系统
摘要 本发明涉及用于监视工业过程的质量的方法及其系统。一种用于监视工业工作过程质量的方法,包括步骤:从工业工作过程(10)获取(100)具有多个频率分量的至少一个信号(x(t)),该方法还包括操作:将所述至少一个信号(x(t))分解(200)为具有单个频率分量的信号,计算(300)针对具有单个频率分量的每个信号的信息量,分析(400)针对具有单个频率分量的每个信号的信息量,以及如果最低单个频率分量处的信号的信息量的值不表示整个获取信号(x(t))的信息量的主百分比,则将所述获取信号(x(t))评估为指示具有缺陷的工作过程,并且对所述信号(x(t))执行缺陷分析步骤(500)。
申请公布号 CN103246241B 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201210510711.4 申请日期 2012.12.04
申请人 C.R.F.阿西安尼顾问公司 发明人 G.丹格洛;G.帕斯奎塔茨
分类号 G05B19/418(2006.01)I 主分类号 G05B19/418(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 马永利;李浩
主权项 一种用于监视工业工作过程的质量的方法,其包括标识所述工作过程的缺陷,其类型,包括以下步骤:从所述工业工作过程(10)获取(100)具有多个频率分量的信号(x(t)),评估(200、300、400)从所述工业工作过程(10)获取的具有多个频率分量的所述信号(x(t))以指示是否有所述缺陷和对具有多个频率分量的所述信号(x(t))执行缺陷分析步骤(500),所述评估是在不将从所述工业工作过程获取的具有多个频率分量的所述信号(x(t))与存储的基准信号相比较的情况下执行的,其特征在于其还包括操作:将具有多个频率分量的所述至少一个信号(x(t))分解(200)为具有单个频率分量(IMF<sub>1</sub>...IMF<sub>n‑1</sub>, OIMF<sub>1</sub>...OIMF<sub>n‑1</sub>)的信号,计算(300)针对具有单个频率分量(IMF<sub>1</sub>...IMF<sub>n‑1</sub>, OIMF<sub>1</sub>...OIMF<sub>n‑1</sub>)的每个信号的信息量(var<sub>1</sub>...var<sub>n‑1</sub>),分析(400)针对具有单个频率分量(IMF<sub>1</sub>...IMF<sub>n‑1</sub>, OIMF<sub>1</sub>...OIMF<sub>n‑1</sub>)的每个信号的信息量(var<sub>1</sub>...var<sub>n‑1</sub>),以及如果最低单个频率分量(IMF<sub>n‑1</sub>, OIMF<sub>n‑1</sub>)处的信号的信息量(var<sub>n‑1</sub>)的值不表示整个获取信号(x(t))的信息量的主百分比(K,K1,K2),则具有多个频率分量的所述获取信号(x(t))被评估为指示包括缺陷的工作过程,并且对具有多个频率分量的所述信号(x(t))执行缺陷分析步骤(500)。
地址 意大利奥尔巴萨诺