一种暗室反射特性的测量方法和设备

摘要

本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。

主权项

一种暗室反射特性的测量方法，其特征在于，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。