发明名称 |
装配检测系统 |
摘要 |
本发明公开了一种装配检测系统,用于检测待装配件是否装配在被装配件的预设位置,所述被装配件的外壳设置有检测用孔;包括:检测用导体,用于固定在所述待装配件的外部;具有两个断点的检测电路;两个相互分离且与所述断点一一对应的导电件,用于固定在所述被装配件的内部;每个所述导电件和与之一一对应的断点连接;当所述待装配件装配在所述被装配件的预设位置时,所述检测用导体穿过所述检测用孔与两个所述导电件接触,所述检测电路处于接通状态。本发明的装配检测系统,与现有技术相比,解决了装配检测系统结构复杂,需要多次机械传导才能触发装配检测系统的技术问题。 |
申请公布号 |
CN105486211A |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201610018366.0 |
申请日期 |
2016.01.12 |
申请人 |
北京婴萌科技有限公司 |
发明人 |
陈清华;陈超;曲建泉 |
分类号 |
G01B7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B7/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
宋珊珊 |
主权项 |
一种装配检测系统,用于检测待装配件是否装配在被装配件的预设位置,所述被装配件的外壳设置有检测用孔;其特征在于,包括:检测用导体,用于固定在所述待装配件的外部;具有两个断点的检测电路;两个相互分离且与所述断点一一对应的导电件,用于固定在所述被装配件的内部;每个所述导电件和与之一一对应的断点连接;当所述待装配件装配在所述被装配件的预设位置时,所述检测用导体穿过所述检测用孔与两个所述导电件接触,所述检测电路处于接通状态。 |
地址 |
100080 北京市海淀区善缘街1号10层2-1029 |