发明名称 红外检测滤光透镜
摘要 本发明公开了一种红外检测滤光透镜,包括以Si为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以C为第二镀膜层,且所述基板设于第一镀膜层与第二镀膜层之间。本发明所得到的红外检测滤光透镜,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度,适合于大范围的推广和使用。该滤光片5%Cut on=5500±400nm,7500~13500nm,Tavg≥70%,1500~4000nm,Tavg≤0.1%,T≤1.0%,4000~5000nm,Tavg≤0.5%。
申请公布号 CN105487155A 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201511021171.3 申请日期 2015.12.30
申请人 杭州麦乐克电子科技有限公司 发明人 王继平;吕晶;胡伟琴
分类号 G02B5/20(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人 周豪靖
主权项 一种红外检测滤光透镜,包括以Si为原材料的基板(2)、第一镀膜层(1)和以第二镀膜层(3),且所述基板(2)设于第一镀膜层(1)与第二镀膜层(3)之间,其特征是所述第一镀膜层(1)由内向外依次排列包含有300nm厚度的Ge层、187nm厚度的ZnS层、184nm厚度的Ge层、147nm厚度的ZnS层、123nm厚度的Ge层、231nm厚度的ZnS层、91nm厚度的Ge层、170nm厚度的ZnS层、110nm厚度的Ge层、188nm厚度的ZnS层、109nm厚度的Ge层、219nm厚度的ZnS层、94nm厚度的Ge层、200nm厚度的ZnS层、157nm厚度的Ge层、223nm厚度的ZnS层、127nm厚度的Ge层、269nm厚度的ZnS层、171nm厚度的Ge层、253nm厚度的ZnS层、143nm厚度的Ge层、266nm厚度的ZnS层、141nm厚度的Ge层、236nm厚度的ZnS层、167nm厚度的Ge层、314nm厚度的ZnS层、118nm厚度的Ge层、228nm厚度的ZnS层、156nm厚度的Ge层、403nm厚度的ZnS层、146nm厚度的Ge层、390nm厚度的ZnS层、178nm厚度的Ge层、424nm厚度的ZnS层、193nm厚度的Ge层、291nm厚度的ZnS层、194nm厚度的Ge层、375nm厚度ZnS层、238nm厚度的Ge层、450nm厚度的ZnS层、201nm厚度的Ge层、391nm厚度的ZnS层、206nm厚度的Ge层、401nm厚度的ZnS层、284nm厚度的Ge层、479nm厚度的ZnS层、279nm厚度的Ge层、574nm厚度的ZnS层、269nm厚度的Ge层、507nm厚度的ZnS层、327nm厚度的Ge层、474nm厚度的ZnS层、283nm厚度的Ge层、685nm厚度的ZnS层、239nm厚度的Ge层、544nm厚度的ZnS层、497nm厚度的Ge层、206nm厚度的ZnS层、465nm厚度的Ge层、1155nm厚度的ZnS层,所述的第二镀膜层(3)为1100nm厚度的C层,所述的基板为直径3cm的单面凸透镜,其凸出面与第一镀膜层接触,且凸出面的凸出半径为4.3cm。
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