发明名称 |
轴向温度梯度可调控的碳化硅单晶生长装置 |
摘要 |
本发明涉及晶体生长技术领域,具体涉及一种物理气相输运法(PVT)生长大尺寸SiC单晶的装置。该装置具体是一种适用物理气相输运法生长碳化硅单晶的坩埚结构。本发明将坩埚盖加工成双层壁结构,中间为夹心空层。然后将特制外形的保温材料(完全贴合整个夹心层)放进坩埚盖的空心层。本发明可以根据轴向温度梯度的大小确定合适保温层的厚度分布,从而实现晶体生长速率可控。 |
申请公布号 |
CN103184512B |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201110447811.2 |
申请日期 |
2011.12.28 |
申请人 |
上海硅酸盐研究所中试基地;中国科学院上海硅酸盐研究所 |
发明人 |
刘熙;严成峰;忻隽;孔海宽;肖兵;杨建华;施尔畏 |
分类号 |
C30B23/00(2006.01)I;C30B29/36(2006.01)I |
主分类号 |
C30B23/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
郭辉 |
主权项 |
一种用于物理气相输运技术生长碳化硅单晶的坩埚,所述坩埚是包括生长腔室和坩埚盖的分体式结构,其中,坩埚盖为双层壁结构,中间为空心层;且该空心层的厚度随高度是可变的,以根据轴向温度梯度的大小确定合适保温层的厚度分布,从而实现晶体生长速率可控,但又不影响坩埚内原料的温度场分布。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区城北路215号 |