发明名称 |
晶片的永久粘合方法 |
摘要 |
本发明涉及第一衬底(1)的第一接触面(3)与第二衬底(2)的第二接触面(4)的粘合方法,其中第二衬底(2)具有至少一个反应层(7),所述方法具有下列步骤,尤其是下列过程:-在第一接触面(3)上的储库形成层(6)中形成储库(5),- 用第一原料物或第一组原料物至少部分填充储库(5),-使第一接触面(3)与第二接触面(4)接触以形成预粘合连接,-减薄第二衬底(2)和-在第一和第二接触面(3, 4)之间形成永久粘合,其通过第一原料物与第二衬底(2)的反应层(7)中所含的第二原料物的反应至少部分增强。 |
申请公布号 |
CN103460343B |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201180069928.X |
申请日期 |
2011.04.08 |
申请人 |
EV 集团 E·索尔纳有限责任公司 |
发明人 |
T.普拉赫;K.欣格尔;M.温普林格;C.弗勒特根 |
分类号 |
H01L21/20(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/20(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
石克虎;林森 |
主权项 |
第一衬底(1)的第一接触面(3)与第二衬底(2)的第二接触面(4)的粘合方法,其中第二衬底(2)具有至少一个反应层(7),所述方法具有下列步骤:‑ 在第一接触面(3)上的储库形成层(6)中形成适于容纳第一原料物的储库(5),‑ 用第一原料物或第一组原料物至少部分填充储库(5),‑ 减薄第二衬底(2),‑ 使第一接触面(3)与第二接触面(4)接触以形成预‑粘合‑连接,和‑ 在第一和第二接触面(3, 4)之间形成永久粘合,其通过第一原料物与第二衬底(2)的反应层(7)中所含的第二原料物的反应至少部分增强,其中在临形成永久粘合之前将储库(5)与反应层(7)之间的平均间距(B)通过减薄制成0.1 nm至15 nm。 |
地址 |
奥地利圣弗洛里安 |