发明名称 显微镜和重影消除方法
摘要 本发明公开了显微镜和重影消除方法。该显微镜包括:第一成像光学系统,对透过设置在载物台上的样本透过光进行摄像;以及第二成像光学系统,对从该第一成像光学系统分支出的样本透过光的一部分进行摄像。这里,该第二成像光学系统包括:光束分支元件,从该第一成像光学系统分支样本透过光的一部分,并具有预定阈值以上的厚度;摄像元件,对所分支出的样本透过光的相差图像进行摄像;一个或多个光学元件,在该摄像元件上对所分支出的样本透过光的相差图像进行成像;以及滤波器,遮挡在该摄像元件上成像的所分支的样本透过光的一部分。
申请公布号 CN102375227B 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201110227638.5 申请日期 2011.08.09
申请人 索尼公司 发明人 田部典宏;山本隆司
分类号 G02B21/00(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I 主分类号 G02B21/00(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 一种显微镜,包括:第一成像光学系统,对透过设置在载物台上的样本的样本透过光进行摄像;以及第二成像光学系统,对所述样本透过光的从所述第一成像光学系统分支出的一部分进行摄像,其中,所述第二成像光学系统包括:光束分支元件,从所述第一成像光学系统分支出所述样本透过光的一部分,由所述光束分支元件提供的分支透射所述样本透过光和所述样本透过光的一部分中的一个,并且反射所述样本透过光和所述样本透过光的一部分中的另一个,所述样本透过光的一部分变成分支出的样本透过光,所述光束分支元件具有厚度;摄像元件,对所述分支出的样本透过光的相差图像进行摄像;多个光学元件,将所述分支出的样本透过光的相差图像成像在所述摄像元件上,其中,所述多个光学元件包括聚光透镜、双目镜滤波器和位于所述摄像元件前面的双目镜,其中,所述滤波器遮挡所述分支出的样本透过光的一部分以防被成像到所述摄像元件上,所述一部分是在所述光束分支元件内通过反射生成的重影光,其中,所述滤波器为设置有通孔组的光阑,其中,所述通孔组用于使成为所述相差图像的光通量组经过,其中,所述光束分支元件的厚度具有比根据以下不等式1所计算的特征值更大的值,所述不等式1表示为[数学式1]<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>t</mi><mo>&gt;</mo><mi>k</mi><mo>&times;</mo><mfrac><mrow><mo>(</mo><mi>&phi;</mi><mi>a</mi><mo>+</mo><mi>&phi;</mi><mi>b</mi><mo>+</mo><mi>d</mi><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></mfrac></mrow>]]></math><img file="FDA0000859870490000021.GIF" wi="565" he="166" /></maths>其中,t表示所述光束分支元件的厚度,k表示光学系统中的固有常数,φa表示所述样本透过光在滤波器位置处的光通量直径,φb表示所述通孔的直径,并且d表示所述通孔组的通孔的中心间距离。
地址 日本东京