| 发明名称 | 记忆装置的测试方法及系统 | ||
| 摘要 | 测试方法，适用在操作于测试模式下的记忆装置，包括接收一向量。该向量系欲写入记忆装置中。当向量属于复数测试向量之一预设集合时，将向量写入记忆装置。当向量不属于测试向量之预设集合时，将向量转换成测试向量之一者，用以产生一转换向量，并将转换向量写入记忆装置中。 | ||
| 申请公布号 | TWI529736 | 申请公布日期 | 2016.04.11 |
| 申请号 | TW103129808 | 申请日期 | 2014.08.29 |
| 申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 塔莎 尼尔;卡路兹尼 厄瑞;维瑟 查奇;特波 瓦勒利 |
| 分类号 | G11C29/52(2006.01);G11C29/08(2006.01) | 主分类号 | G11C29/52(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
| 主权项 | 一种测试方法，包括：令一记忆装置操作在一测试模式，并接收一向量，该向量系欲写入该记忆装置中；当该向量属于复数测试向量之一预设集合时，将该向量写入该记忆装置；以及当该向量不属于该等测试向量之该预设集合时，将该向量转换成该等测试向量之一者，用以产生一转换向量，并将该转换向量写入该记忆装置中。 | ||
| 地址 | 台中市大雅区科雅一路8号 | ||