发明名称 |
探针卡以及应用其的测试设备 |
摘要 |
探针卡适用于接触覆晶式发光二极体晶片。探针卡包括线路板、二探针及固定座。线路板具有安装面及侧缘。各探针具有安装在线路板上的连接部、延伸自连接部的延伸部、与延伸部连接且突出自侧缘的悬臂部及延伸自悬臂部的接触部。固定座安装在线路板的安装面上并具有固定面。延伸部的部分位于线路板与固定座之间。一种测试设备适用于测试覆晶式发光二极体晶片的光学特性,并采用上述的探针卡。
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申请公布号 |
TWI529397 |
申请公布日期 |
2016.04.11 |
申请号 |
TW103127774 |
申请日期 |
2014.08.13 |
申请人 |
旺矽科技股份有限公司 |
发明人 |
张嘉泰;林修纬;林宏毅 |
分类号 |
G01R1/073(2006.01);G01J1/02(2006.01);G01J1/42(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
叶璟宗;詹东颖;刘亚君 |
主权项 |
一种探针卡,适用于接触一覆晶式发光二极体晶片,该探针卡包括:一线路板,具有一安装面及一侧缘;二探针,各该探针具有安装在该线路板上的一连接部、延伸自该连接部的一延伸部、与该延伸部连接且突出自该侧缘的一悬臂部及延伸自该悬臂部的一接触部;以及一固定座,安装在该线路板的该安装面上并具有一固定面,其中该延伸部的一部分位于该线路板与该固定座之间。
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地址 |
新竹县竹北市中和街155号 |