发明名称 |
触控装置及其基准二维感测资讯之更新方法 |
摘要 |
明为有关一种触控装置及其基准二维感测资讯之更新方法,其系于更新基准二维感测资讯时,若平整度资讯中有平整度值小于预设平整度负比对值或大于预设平整度正比对值,则代表感测面板处于异常状态,而处理器会持续取得后续之二维感测资讯,以运算平整度资讯,直至所有平整度值介于预设平整度负比对值与预设平整度正比对值之间,即感测面板恢复至正常状态,此时处理器才将二维感测资讯更新为基准二维感测资讯,藉此使处理器后续取得之二维感测资讯皆能与正常之基准二维感测资讯进行比较,以正常判断感测面板之触控状态。
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申请公布号 |
TWI529577 |
申请公布日期 |
2016.04.11 |
申请号 |
TW102148792 |
申请日期 |
2013.12.27 |
申请人 |
禾瑞亚科技股份有限公司 |
发明人 |
张钦富;叶尙泰 |
分类号 |
G06F3/041(2006.01);G06F3/044(2006.01) |
主分类号 |
G06F3/041(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
张朝坤;江明志 |
主权项 |
一种触控装置及其基准二维感测资讯之更新方法,该触控装置设有感测面板,而感测面板设置有沿第一轴向平行排列之复数驱动线,以及沿第二轴向平行排列且与各驱动线交越之复数感测线,并于各驱动线与各感测线之交越处分别形成感测点,且各驱动线及各感测线分别电性连接至驱动及感测电路,又驱动及感测电路电性连接至处理器,处理器再电性连接至记忆体,其步骤包括:(A01)驱动及感测电路取得所有感测点之电容性耦合量,并以所有电容性耦合量与其相对应感测点之位置资讯构成有二维感测资讯;(A02)处理器对二维感测资讯中之复数局部二维感测资讯分别运算得到一平整度值,再以所有平整度值及其相对应之局部二维感测资讯位置资讯构成一平整度资讯;(A03)处理器判断平整度资讯中各平整度值是否介于预设平整度负比对值及预设平整度正比对值之间,若判断为「是」,则进行步骤(A04);若判断为「否」,则进行步骤(A05);(A04)处理器判断感测面板处于正常状态,并以该二维感测资讯更新为基准二维感测资讯;(A05)处理器判断感测面板处于异常状态,并回到步骤(A01)。
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地址 |
台北市内湖区瑞光路302号11楼 |