发明名称 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 채널 형성 영역으로서 산화물 반도체층을 갖는 박막 트랜지스터의 제작 방법을 개시한다. 본 발명은 게이트 절연층 위에 산화물 반도체층을 형성하는 공정; 상기 산화물 반도체층의 적어도 일부가 노출되도록 상기 산화물 반도체층 위에 상기 산화물 반도체층에 접하여 소스 전극층 및 드레인 전극층을 형성하는 공정; 및 상기 산화물 반도체층 위에 상기 산화물 반도체층에 접하여 산화물 절연막을 형성하는 공정을 포함한다. 상기 산화물 반도체층의 노출 영역은 상기 산화물 절연막의 형성 전에 플라즈마 존재하에서 산소를 포함하는 가스에 노출될 수 있다. 본 방법에 의해 산소는 상기 산화물 반도체층 내에 확산하게 되어, 우수한 박막 트랜지스터 특성에 기여한다.
申请公布号 KR101610606(B1) 申请公布日期 2016.04.07
申请号 KR20157010875 申请日期 2010.06.09
申请人 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 发明人 오이까와 요시아끼;오까자끼 겐이찌;마루야마 호따까
分类号 H01L21/02;H01L21/28;H01L27/12;H01L29/66;H01L29/786 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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