发明名称 |
METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE |
摘要 |
채널 형성 영역으로서 산화물 반도체층을 갖는 박막 트랜지스터의 제작 방법을 개시한다. 본 발명은 게이트 절연층 위에 산화물 반도체층을 형성하는 공정; 상기 산화물 반도체층의 적어도 일부가 노출되도록 상기 산화물 반도체층 위에 상기 산화물 반도체층에 접하여 소스 전극층 및 드레인 전극층을 형성하는 공정; 및 상기 산화물 반도체층 위에 상기 산화물 반도체층에 접하여 산화물 절연막을 형성하는 공정을 포함한다. 상기 산화물 반도체층의 노출 영역은 상기 산화물 절연막의 형성 전에 플라즈마 존재하에서 산소를 포함하는 가스에 노출될 수 있다. 본 방법에 의해 산소는 상기 산화물 반도체층 내에 확산하게 되어, 우수한 박막 트랜지스터 특성에 기여한다. |
申请公布号 |
KR101610606(B1) |
申请公布日期 |
2016.04.07 |
申请号 |
KR20157010875 |
申请日期 |
2010.06.09 |
申请人 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
发明人 |
오이까와 요시아끼;오까자끼 겐이찌;마루야마 호따까 |
分类号 |
H01L21/02;H01L21/28;H01L27/12;H01L29/66;H01L29/786 |
主分类号 |
H01L21/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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