| 发明名称 | 偏光膜的强度测定方法及偏振片 | ||
| 摘要 | 本发明提供偏光膜的强度测定方法及偏振片，该方法能够简易且定量地进行偏光膜的拉伸轴向的强度的测定。即，一种偏光膜的强度测定方法，其特征在于，将穿刺夹具相对于偏光膜垂直穿刺，测定沿着偏光膜的拉伸轴偏光膜断裂的强度。上述穿刺夹具具备穿刺针，优选上述穿刺针的与偏光膜相接的前端为球形或半球形。 | ||
| 申请公布号 | CN105466757A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201510627377.4 | 申请日期 | 2015.09.28 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 市原正宽;松野健次 |
| 分类号 | G01N3/00(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 赵曦;金世煜 |
| 主权项 | 一种偏光膜的强度测定方法，其特征在于，将穿刺夹具相对于偏光膜垂直穿刺，测定沿着偏光膜的拉伸轴偏光膜断裂的强度。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||