| 发明名称 | 面向字的内存测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种面向字的内存测试方法，包括：针对不同的待测内存错误类型，根据内存芯片位宽各自生成内存测试模型序列；利用生成的各所述内存测试模型序列进行内存测试。本发明根据内存芯片位宽生成内存测试模型序列，采用了面向字的设计方式生成内存测试模型序列，充分利用内存位宽，提高了内存测试的效率；本发明进一步通过列举错误状态的集合，再精简集合中冗余的错误状态，得到包含所有需要覆盖的错误状态的最简闭环双位测试序列，并导入至根据内存芯片位宽生成的基础模型序列，生成内存测试模型序列，利用生成的内存测试模型序列进行内存测试，实现了对每两位之间采用最短路径检测所有需要覆盖的错误状态，最终实现了对耦合故障的高效检测。 | ||
| 申请公布号 | CN105468485A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201510808092.0 | 申请日期 | 2015.11.19 |
| 申请人 | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 | 发明人 | 李岩 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I;G06F11/26(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人 | 孟阿妮;郭栋梁 |
| 主权项 | 一种面向字的内存测试方法，其特征在于，包括：针对不同的待测内存错误类型，根据内存芯片位宽各自生成内存测试模型序列；利用生成的各所述内存测试模型序列进行内存测试。 | ||
| 地址 | 201114 上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号 | ||