发明名称 多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法
摘要 公开了一种多通道光纤插回损测试仪,包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计;具有1个或2个正向输出测试端口和多个正向输入测试端口,正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接;主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置多路光功率计线路连接;还公开了一种测试校准方法。本发明消除了因连接损耗不确定引起的误差;多通道插回损、偏振相关损耗实时测量,测量效率高。
申请公布号 CN103630331B 申请公布日期 2016.04.06
申请号 CN201210317728.8 申请日期 2012.08.31
申请人 上海光之虹光电通讯设备有限公司 发明人 尹晓民
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 多通道光纤插回损测试仪的测试校准方法,其特征是:多通道光纤插回损测试仪包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计;光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口,被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置多路光功率计构成正向测试通道;光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置探测器多路光功率计构成反向测试通道;正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接;主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接;多通道光纤插回损测试仪的测试校准方法,包括如下步骤:首先进行校准步骤,测试用跳线与输出/输入测试端口连接的一端为第一连接端,另一端为第二连接端;    将将要与输出/输入测试端口连接的测试用跳线的第二连接端接至光源组,测试用跳线的第一连接端连接至外置探测器参考光功率计,测出其功率值P<sub>参</sub>;将该测试用跳线的第一连接端接至需连接的测试端口,通过与该测试端口连接的内置探测器多路光功率计测出其功率P<sub>i</sub>;主控器将得到校准值P<sub>i</sub><sub>校</sub>=P<sub>i</sub>‑P<sub>参</sub>进行保存;将所有输出/输入测试端口用到的测试用跳线按以上步骤连接校准;其次进行插入损耗测试步骤,多通道光纤插回损测试仪接入被测试器件构成的正/反向测试通道中,与被测试器件输入端连接的部分称为测试输出通道,与被测试器件输出端连接的部分称为测试输入通道;光源组的光源从测试输出通道输出,将连接正向输出测试端口的测试用跳线的第二连接端连接至外置探测器参考光功率计,测试归零值P<sub>零</sub>;将被测试器件的输入、输出端分别与连接本测试仪的测试输出、输入通道的测试用跳线连接,通过内置多路光功率计测出其输出功率值P<sub>i</sub><sub>测</sub>,主控器接收数据并运算,测试通道的插损值IL<sub>i</sub>=P<sub>零</sub>‑P<sub>i</sub><sub>测</sub>+Pi<sub>校</sub>。
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