| 发明名称 | 荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置。一种荧光光谱校正方法，包括：对从标记有多个荧光染料的微粒获取的荧光光谱与参考光谱进行比较，从而将荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱，并且将先前测得的光谱数据用作为参考光谱。 | ||
| 申请公布号 | CN102539397B | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201110353124.4 | 申请日期 | 2011.11.09 |
| 申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 角田正也;二村孝治;酒井启嗣;加藤泰信 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种荧光光谱校正方法，包括：将从标记有多个荧光染料的微粒获得的荧光光谱与参考光谱进行比较，从而将所述荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱，其中，先前测得的从标记有多个荧光染料的微粒获得的荧光光谱分离出的针对每个染料的荧光光谱数据被用作所述参考光谱，其中，在所述参考光谱中，与单染色样本的误差小于或等于8％。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||