发明名称 |
一种检测电路、阵列基板、显示装置 |
摘要 |
本实用新型提供一种检测电路、阵列基板、显示装置,用于解决现有技术中的检测电路中连接线在过孔之间的爬坡处膜质较差的问题。本实用新型提供的检测电路、阵列基板、显示装置,由于第一过孔和第二过孔距离较远,在制作连接线时,例如,沉积氧化铟锡(ITO)作为连接线时,ITO爬坡处膜质比较好,有电流通过时,不容易发生ITO烧断的现象,导致检测失效。 |
申请公布号 |
CN205139514U |
申请公布日期 |
2016.04.06 |
申请号 |
CN201520746347.0 |
申请日期 |
2015.09.24 |
申请人 |
北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
张小祥;刘正;刘明悬;陈曦;郭会斌;张治超 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
柴亮;张天舒 |
主权项 |
一种检测电路,其特征在于,包括在衬底上绝缘交叉布置多个待检测走线和用于对所述待检测走线输入检测信号的多个信号通入走线,所述多个待检测走线与所述多个信号通入走线在垂直所述衬底方向上具有重合区域;所述信号通入走线通过连接线与所述待检测走线连接,其中,所述连接线的一端通过第一过孔与所述待检测走线连接,所述连接线的另一端通过第二过孔与所述信号通入走线连接;所述第二过孔与所述第一过孔至少相隔一个所述重合区域。 |
地址 |
100176 北京市北京经济技术开发区经海一路118号 |