发明名称 |
使用等离子体增强氧化钝化的硅蚀刻 |
摘要 |
提供了通过在硅层上形成的图案化掩模蚀刻硅层的方法和装置。所述硅层放置于蚀刻室中。提供包括含氟气体和含氧、氢气体的蚀刻气体进入所述蚀刻室。由所述蚀刻气体产生等离子体,使用所述等离子体蚀刻特征到所述硅层中。然后停止所述蚀刻气体。所述等离子体可含有OH自由基。 |
申请公布号 |
CN105470126A |
申请公布日期 |
2016.04.06 |
申请号 |
CN201510819617.0 |
申请日期 |
2009.10.09 |
申请人 |
朗姆研究公司 |
发明人 |
雅罗斯瓦夫·W·温尼克泽克;罗伯特·P·谢比 |
分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/3213(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I |
代理机构 |
上海胜康律师事务所 31263 |
代理人 |
樊英如;李献忠 |
主权项 |
使用放置有硅层的蚀刻室,通过在该硅层上形成的图案化掩模蚀刻该硅层的方法,所述方法包括:提供上面有图案化掩模的硅层;提供包括含氟气体和含氧、氢气体的蚀刻气体进入所述蚀刻室,该蚀刻室中已放置有所述硅层;由所述蚀刻气体产生等离子体;使用所述等离子体通过所述图案化掩模蚀刻特征到所述硅层中;以及停止所述蚀刻气体,其中所述含氧、氢气体包含水蒸气,所述含氟气体包含SF<sub>6</sub>,以及其中H<sub>2</sub>O相对于SF<sub>6</sub>的流率大于0.24。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |