发光状况测定装置

摘要

本发明提供一种高速测定半导体发光元件的发光状况，并能够根据测定结果检查半导体发光元件的发光状况测定装置。一种发光状况测定装置（3），其接收LED（101）所发射的光，并测定发光状况，其特征在于，具有：CCD（105），其设置在LED（101）的发光中心轴上并且与LED（101）相面对的位置，用于拍摄LED（101）的发光状况；以及透镜部（123），其接收LED（101）所发射的光，并且将该光面向CCD（105）发射。透镜部（123）设置于LED（101）与CCD（105）之间并且较靠近LED（101）的位置。

主权项

一种发光状况测定装置，其接收LED所发射的光，并直接测定发光状况，其特征在于，具有：图像拍摄装置，其设置在上述LED的发光中心轴上并且与上述LED相面对的位置，用于拍摄上述LED的发光状况；以及透镜部，其接收上述LED所发射的光，并且将该光向上述图像拍摄装置发射，上述透镜部设置于上述LED与上述图像拍摄装置之间并且较靠近上述LED的位置，上述透镜部由多个透镜组成，在上述多个透镜中，至少设置于最靠近上述LED的透镜由菲涅尔透镜组成。