发明名称 一种二硫化钼/半导体异质结光电探测器及其制造方法
摘要 本发明公开了一种二硫化钼/半导体异质结光电探测器该二硫化钼/半导体异质结光电探测器自下而上依次有背电极层、半导体衬底层、二硫化钼层,在二硫化钼层上设有彼此分隔的两块表面电极,在两块表面电极之间的二硫化钼层上还具有量子点层。其制造步骤包括:先在半导体衬底背面制作背面电极层,然后将二硫化钼转移至半导体衬底层上,之后在二硫化钼层上制作表面电极,并在二硫化钼层上制作量子点层。本发明的二硫化钼/半导体异质结光电探测器通过增设量子点层辅助增强器件的光吸收,获得的光电探测器光响应灵敏,探测能力高,能够自驱动,应用领域广泛。
申请公布号 CN105470320A 申请公布日期 2016.04.06
申请号 CN201510886867.6 申请日期 2015.12.07
申请人 浙江大学 发明人 徐志娟;林时胜;李晓强
分类号 H01L31/0296(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 H01L31/0296(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 韩介梅
主权项 一种二硫化钼/半导体异质结光电探测器,其特征在于自下而上依次有背电极层(1)、半导体衬底层(2)、二硫化钼层(3),在二硫化钼层上设有彼此分隔的两块表面电极(4),在两块表面电极(4)之间的二硫化钼层上还具有量子点层(5)。
地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号