发明名称 |
一种电子白板轨迹平滑方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种电子白板轨迹平滑方法和装置,方法包括步骤:A1、对触摸屏上移动轨迹第一点位置进行采样,存储第一点的采样坐标,并将该采样坐标设为平滑坐标;A2、设定距离阈值;A3、依次对触摸屏上移动轨迹后续点位置进行采样得到采样坐标,同时确定与当前采样坐标的前一采样坐标的横坐标距离小于所述距离阈值的采样坐标得到平均采样坐标及所述平均采样坐标个数;A4、采用坐标平均法计算新的平滑坐标。装置包括依次相连的采样模块、平滑模块和存储模块,本发明显著降低了电子白板轨迹平滑过程中由于参与平滑的点选取不当造成的曲线畸变,轨迹波动毛刺小,轨迹坐标整齐,线条平滑。 |
申请公布号 |
CN105468180A |
申请公布日期 |
2016.04.06 |
申请号 |
CN201410436032.6 |
申请日期 |
2014.08.29 |
申请人 |
深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司 |
发明人 |
徐协增;王志勇;卢肇川 |
分类号 |
G06F3/041(2006.01)I;G06F3/0488(2013.01)I |
主分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市君盈知识产权事务所(普通合伙) 44315 |
代理人 |
张丕阳 |
主权项 |
一种电子白板轨迹平滑方法,其特征在于,包括步骤:A1、对触摸屏上移动轨迹第一点位置进行采样,存储第一点的采样坐标,并将该采样坐标设为平滑坐标;A2、设定距离阈值;A3、依次对触摸屏上移动轨迹后续点位置进行采样得到采样坐标,同时确定与当前采样坐标的前一采样坐标的横坐标距离小于所述距离阈值的采样坐标得到平均采样坐标及所述平均采样坐标个数;A4、将所述平均采样坐标个数加1得到平均点数,累加所述平均采样坐标的横坐标,加上当前采样坐标的横坐标,再除以所述平均点数,得到当前采样坐标对应的平滑坐标的横坐标,累加所述平均采样坐标的纵坐标,加上当前采样坐标的纵坐标,再除以所述平均点数,得到当前采样坐标对应的平滑坐标的纵坐标。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园4号厂房1楼 |