| 发明名称 | 人机交互式元器件通用测试系统及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种人机交互式元器件通用测试系统及测试方法，本发明公开的人机交互式元器件通用测试系统包括下位机和上位机；所述下位机用于测试被测元器件/集成电路；所述上位机对下位机提供控制指令，下位机向上位机反馈测试结果，上位机对测试结果进行分析和显示。 | ||
| 申请公布号 | CN105467243A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201510905969.8 | 申请日期 | 2015.12.09 |
| 申请人 | 上海精密计量测试研究所 | 发明人 | 项宗杰;王兰来;胡小海 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人 | 金家山 |
| 主权项 | 一种人机交互式元器件通用测试系统，其特征在于，包括下位机和上位机；所述下位机用于测试被测元器件/集成电路；所述上位机对下位机提供控制指令，下位机向上位机反馈测试结果，上位机对测试结果进行分析和显示。 | ||
| 地址 | 201109 上海市闵行区元江路3888号南楼213室 | ||