发明名称 | 获取雷达角反射器RCS精度的方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种获取雷达角反射器RCS精度的方法。该方法针对传统雷达角反射器RCS精度测量方法的局限性,采用三维测量仪获取待测雷达角反射器精准的三维模型,接着利用RCS仿真器计算待测雷达角反射器三维模型的RCS,最后与RCS理论值进行比较,从而测量雷达角反射器实际RCS与RCS理论值的偏差程度。本发明可以获得比雷达直接测量法和几何推算法更好的灵活性和精度,同时并没有增加太多的成本,具有较好的推广应用价值。 | ||
申请公布号 | CN105466365A | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
申请号 | CN201510770350.0 | 申请日期 | 2015.11.12 |
申请人 | 中国科学院光电研究院 | 发明人 | 李传荣;周勇胜;杨震;胡坚;马灵玲 |
分类号 | G01B11/28(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/28(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 曹玲柱 |
主权项 | 一种获取雷达角反射器RCS精度的方法,其特征在于,包括:步骤A:选择满足实际RCS测量精度需求的RCS仿真器;步骤B:利用选择的RCS仿真器计算三维测量仪的几何测量精度对应的RCS精度,选择满足实际RCS测量精度需求的三维测量仪;以及步骤C:利用选择的RCS仿真器和三维测量仪,测量待测雷达角反射器RCS精度。 | ||
地址 | 100094 北京市海淀区邓庄南路9号 |