发明名称 TFT基板的制作方法
摘要 本发明提供一种TFT基板的制作方法,通过在沉积层间介电层之前对栅极绝缘层表面进行等离子体处理,增强其表面附着力,之后在栅极绝缘层上沉积层间介电层,从而增强了层间介电层与栅极绝缘层之间的粘着力,可以防止在后高温制程中造成层间介电层裂纹或者脱落的问题,提高产品良率,提高TFT基板的电学性能。
申请公布号 CN105470195A 申请公布日期 2016.04.06
申请号 CN201610003067.X 申请日期 2016.01.04
申请人 武汉华星光电技术有限公司 发明人 刘元甫
分类号 H01L21/77(2006.01)I;H01L21/3105(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/77(2006.01)I
代理机构 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人 林才桂
主权项 一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上形成间隔设置的第一遮光层(21)与第二遮光层(22),在所述第一遮光层(21)、第二遮光层(22)与基板(10)上形成缓冲层(30);步骤2、在所述缓冲层(30)上形成分别对应于第一遮光层(21)与第二遮光层(22)的第一多晶硅层(40)与第二多晶硅层(90),分别对所述第一多晶硅层(40)与第二多晶硅层(90)进行离子掺杂,在所述多晶硅层(40)上形成位于两侧的第一重掺杂区(41)、位于中间的第一沟道区(42)、及位于所述第一重掺杂区(41)与第一沟道区(42)之间的第一轻掺杂区(43),在所述第二多晶硅层(90)上形成位于两侧的第二重掺杂区(91)、及位于中间的第二沟道区(92);步骤3、在所述第一多晶硅层(40)、第二多晶硅层(90)、及缓冲层(30)上沉积栅极绝缘层(51),在所述栅极绝缘层(51)上形成分别对应于第一多晶硅层(40)与第二多晶硅层(90)的第一栅极(52)与第二栅极(93);步骤4、对暴露出来的栅极绝缘层(51)表面进行等离子体处理,以增强栅极绝缘层(51)表面的附着力;步骤5、在栅极绝缘层(51)及第一栅极(52)、第二栅极(93)上沉积层间介电层(53),然后通过高温制程对所述层间介电层(53)进行氢化和活化;步骤6、对所述层间介电层(53)及栅极绝缘层(51)进行图案化处理,得到位于所述第一重掺杂区(41)上方的第一过孔(55)及位于所述第二重掺杂区(91)上方的第二过孔(95),之后在所述层间介电层(53)上形成第一源极(61)、第一漏极(62)、第二源极(96)、第二漏极(97),所述第一源极(61)与第一漏极(62)分别通过第一过孔(55)与第一重掺杂区(41)相接触,所述第二源极(96)与第二漏极(97)分别通过第二过孔(95)与第二重掺杂区(91)相接触;步骤7、在所述第一源极(61)、第一漏极(62)、第二源极(96)、第二漏极(97)、及层间介电层(53)上制作平坦层(70),对所述平坦层(70)进行图案化处理,得到位于所述第一漏极(62)上方的第三过孔(71),在所述平坦层(70)上依次制作公共电极(80)与钝化层(81),所述钝化层(81)包覆所述平坦层(70)上的第三过孔(71),之后在覆盖所述第三过孔(71)底部的钝化层(81)上钻孔,使得所述第一漏极(62)暴露出来,在所述钝化层(81)上形成像素电极(82),所述像素电极(82)通过第三过孔(71)与第一漏极(62)相接触。
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