| 发明名称 | 一种可见光折射率传感器 | ||
| 摘要 | 一种可见光折射率传感器，涉及光传感器。为3层结构，从下至上依次设有基片、纳米压印胶层、铬层和银层，所述纳米压印胶层涂布在基片的上表面，纳米压印胶层的上表面沉积均匀周期排列的微纳米金属圆孔洞阵列，铬层蒸镀在纳米压印胶层上，银层蒸镀在铬层上。纳米压印胶层的厚度可为200～250nm；铬层的厚度可为10～20nm；银层的厚度可为200～250nm；所述周期可为500～600nm。工艺简单、尺寸小、灵敏度高、成本低，让可见光折射率传感器的应用更加广泛。 | ||
| 申请公布号 | CN205139007U | 申请公布日期 | 2016.04.06 |
| 申请号 | CN201520951352.5 | 申请日期 | 2015.11.25 |
| 申请人 | 厦门大学 | 发明人 | 朱锦锋;张丽蓉;白彦强;严爽;柳清伙 |
| 分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
| 代理机构 | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人 | 马应森 |
| 主权项 | 一种可见光折射率传感器，其特征在于其为3层结构，从下至上依次设有基片、纳米压印胶层、铬层和银层，所述纳米压印胶层涂布在基片的上表面，纳米压印胶层的上表面沉积均匀周期排列的微纳米金属圆孔洞阵列，铬层蒸镀在纳米压印胶层上，银层蒸镀在铬层上。 | ||
| 地址 | 361005 福建省厦门市思明南路422号 | ||