| 摘要 |
본 발명은 광 전달 매질의 투과 특성을 측정하는 방법 및 이를 이용한 이미지 획득 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 이미지 획득 장치는 빛을 조사하는 광원부과, 복수의 단위 미러로 구성되고, 상기 광원부로부터 조사된 빛을 반사시키되 상기 복수의 단위 미러의 온/오프 패턴에 따른 상호 상이한 파면의 기 설정된 복수의 포커싱 패턴광이 순차적으로 형성되도록 상기 광원부로부터의 빛을 반사하는 디지털 마이크로 미러와, 상기 디지털 마이크로 미러에 의해 형성된 상기 포커싱 패턴광이 투과하여 측정 대상물로 향하게 하는 광 전달 매질과, 상기 측정 대상물로부터 반사되어 상과 광 전달 매질을 투과한 측정광을 이미징하는 이미징부와, 상기 디지털 마이크로 미러와 상기 광 전달 매질 사이의 광 경로 상에 배치되어 상기 디지털 마이크로 미러로부터의 상기 포커싱 패턴광을 상기 광 전달 매질로 향하게 하고, 상기 광 전달 매질을 투과한 상기 측정광을 상기 이미징부로 향하게 하는 빔 스플리터를 포함하며; 하나의 포커싱 패턴광은 상기 광 전달 매질을 투과할 때 하나의 특정점에 포커싱되도록 형성되고; 상기 복수의 포커싱 패턴광 각각에 의해 포커싱되는 특정점들이 상기 측정 대상물을 스캔하여 상기 측정 대상물이 이미징되는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 광섬유와 같은 광 전달 매질을 이용한 이미지 획득에 있어, 광 전달 매질의 종류와 무관하게 픽셀화 현상, 수차(Aberration) 현상을 제거하면서도 별도의 스캐너를 설치하지 않고 고해상도의 이미지를 고속으로 획득할 수 있다. |
