| 摘要 |
De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het verzamelen van deeltjes, omvattende het verschaffen van een verzamelstrook met een klevend oppervlak, het op een te bemonsteren substraat plaatsen van het klevende oppervlak van de verzamelstrook, en het analyseren van het klevende oppervlak van de verzamelstrook op deeltjes. De werkwijze wordt gekenmerkt doordat de verzamelstrook is voorzien op een vaste basis, waarbij de vaste basis een daarmee losneembaar koppelbare afdekking omvat, waarbij de afdekking in een aan de basis gekoppelde toestand de verzamelstrook afdekt en op afstand daarvan is gelegen. |
