发明名称 半导体装置
摘要 明之目的在于提高半导体装置之可靠性。
申请公布号 TW201613041 申请公布日期 2016.04.01
申请号 TW104126418 申请日期 2015.08.13
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 锦沢笃志;団野忠敏;中村弘幸;相马治;上村圣
分类号 H01L23/28(2006.01) 主分类号 H01L23/28(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项 一种半导体装置,其包含:第1半导体晶片;第2半导体晶片复数条引线;复数条导线;及密封体,其密封上述第1及第2半导体晶片、上述复数条引线之各者之一部分、及上述复数条导线;且上述第1半导体晶片具有第1焊垫、第2焊垫、及电性连接上述第1焊垫与上述第2焊垫之第1配线;上述第2半导体晶片具有第3焊垫;上述第2半导体晶片之上述第3焊垫、与上述第1半导体晶片之上述第1焊垫经由上述复数条导线中的第1导线而电性连接;上述第1半导体晶片之上述第2焊垫与上述复数条引线中的第1引线经由上述复数条导线中的第2导线而电性连接;上述第1引线与上述第1半导体晶片之间的距离小于上述第1引线与上述第2半导体晶片之间的距离;上述第1焊垫、上述第2焊垫及上述第1配线与形成于上述第1半导体晶片内之任一者之电路皆未电性连接。
地址 日本
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