发明名称 METHOD FOR ANALYZING PROBABILITY OF IMPACT POINT USING PROBABLE ERROR
摘要 본 발명은 공산오차를 이용한 탄착 확률 분석 방법에 관한 것으로, 공산오차 테이블을 이용하여 탄착 확률을 계산하고, 곡사된 물체에 대한 탄착 확률 테이블을 구역 정보로 구조화함으로써, 그 명중률 및 탄착 확률을 사전에 시뮬레이션할 수 있다.
申请公布号 KR101608397(B1) 申请公布日期 2016.04.01
申请号 KR20140044110 申请日期 2014.04.14
申请人 (주)네비웍스 发明人 김구한;이재언
分类号 G06F19/00 主分类号 G06F19/00
代理机构 代理人
主权项
地址