发明名称 |
成膜装置、成膜方法及记忆媒体 |
摘要 |
空环境下,对晶圆(W)供给处理气体
而进行成膜时,抑制成膜后之基板的表面在处理容器内被水分氧化的情形。
构成为在成为真空环境的处理容器
(1)内,使载置有晶圆(W)之载置台(2),在形成有处理空间(30)的上升位置(处理位置)与进行晶圆(W)之搬入搬出的下方位置之间升降自如,且构成为区隔处理空间(30)与载置台(2)之下部侧的下部空间(10)。而且,一边藉由第1真空排气部(5)对处理空间(30)进行排气,一边藉由处理气体对晶圆(W)进行成膜处理,然后,在藉由第2真空排气部(6)进行下部空间(10)的排气后,使载置台(2)下降至下方位置。而且,在使载置台(2)下降之前,停止第1真空排气部(5)之排气,朝向晶圆(W)之表面供给氮气,形成有从晶圆(W)之上方侧沿晶圆(W)之表面流动,而从载置台(2)之周缘朝向外侧的气流。
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申请公布号 |
TW201612356 |
申请公布日期 |
2016.04.01 |
申请号 |
TW104117775 |
申请日期 |
2015.06.02 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 |
发明人 |
阪上博充;佐佐木义明 |
分类号 |
C23C16/455(2006.01);C23C16/52(2006.01) |
主分类号 |
C23C16/455(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
一种成膜装置,系在成为真空环境的处理容器内,对基板供给处理气体而进行成膜处理,该成膜装置,其特征系,具备有:载置台,设置于前述处理容器内,载置基板;升降机构,用以使前述载置台在处理位置(该处理位置,系形成处理基板的处理空间)与下方位置(该下方位置,系用以对处理容器内搬入搬出基板)之间升降;处理气体供给部,用于对前述处理空间供给处理气体;分隔构件,包围位于前述处理位置的载置台,用以分隔处理空间与载置台之下部侧的下部空间;第1真空排气部,用以对前述处理空间进行排气;第2真空排气部,用以对前述下部空间进行排气;及控制部,用以执行如下述者之步骤:一边藉由前述第1真空排气部进行排气,一边对位于处理位置之载置台上的基板进行成膜处理的步骤;接下来,藉由前述第2真空排气部进行排气的步骤;及然后使前述载置台下降至下方位置的步骤。
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地址 |
日本 |