| 摘要 |
Der Brechungsindex eines Testobjekts wird mit hoher Präzision gemessen. Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Messen eines Brechungsindex eines Testobjekts durch Aufteilen von Licht aus einer Lichtquelle in Testlicht und Referenzlicht und Messen eines Interferenzlichts, das sich aus einer Interferenz zwischen dem Referenzlicht und dem Testlicht, das durch das Testobjekt transmittiert wird, ergibt. In dem Verfahren ist das Testobjekt in einem Medium angeordnet, dessen Gruppenbrechungsindex gleich einem Gruppenbrechungsindex des Testobjekts bei einer bestimmten Wellenlänge ist, Interferenzlicht wird gemessen, die bestimmte Wellenlänge wird basierend auf einer Wellenlängenabhängigkeit einer Phasendifferenz zwischen dem Testlicht und dem Referenzlicht bestimmt, und der Gruppenbrechungsindex des Mediums entsprechend der bestimmten Wellenlänge wird als der Gruppenbrechungsindex des Testobjekts entsprechend der bestimmten Wellenlänge berechnet. |
