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Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen mit wenigstens einem Prüfsockel (13) zum Kontaktieren der elektronischen Bauteile (17) und mit einem Testkopf, der elektrisch an den Prüfsockel (13) gekoppelt ist, dadurch gekennzeichnet, dass zur Weiterleitung von Signalen zwischen Prüfsockel (13) und Testkopf ein Adapterboard (1) vorgesehen ist, das auf seiner dem Prüfsockel (13) zugewandten Seite Kontaktflächen (2) aufweist, die an die Position von Kontakten des Prüfsockels (13) angepasst sind und dessen dem Prüfsockel (13) abgewandte Seite mit Kontaktbuchsen (4) versehen ist, die an die Position von Kontaktstiften (10) des Testkopfs oder eines Zwischenboards (6) angepasst sind, wobei die Kontaktflächen (2) mit den jeweils korrespondierenden Kontaktbuchsen (4) elektrisch leitend verbunden sind, wobei zwischen Adapterboard (1) und Testkopf als Zwischenboard (6) ein Anschlussboard (6) vorgesehen ist, das auswechselbare Kontaktstifte (10) aufweist, die sowohl aus der dem Adapterboard (1) zugewandten Seite als auch der dem Testkopf zugewandten Seite aus der Oberfläche hervor ragen, wobei die Kontaktstifte durchgehende Kontaktstifte sind. |
