一种测试修调电路及一种集成电路

摘要

本发明公开了一种测试修调电路及一种集成电路。该测试修调电路包括：模式选择模块、分别与模式选择模块连接的测试模块和修调模块，模式选择模块与集成电路的第一管脚连接，测试模块与集成电路的第二管脚连接；模式选择模块接收通过第一管脚输入的触发信号，根据触发信号的电平值输出第一模式选择信号到测试模块和/或输出第二模式选择信号到修调模块；测试模块被第一模式选择信号使能后对集成电路测试位进行测试，并通过第二管脚输出测试信息；修调模块被第二模式选择信号使能后对集成电路修调位进行修调。本发明根据触发信号的电平值，控制测试修调电路对集成电路进行测试或修调，无需时延，实现了在一个时钟序列内完成对集成电路的测试和修调。

主权项

一种测试修调电路，设置在集成电路内部，其特征在于，包括：模式选择模块，以及分别与所述模式选择模块电性连接的测试模块和修调模块，所述模式选择模块与所述集成电路的第一管脚连接，所述测试模块与所述集成电路的第二管脚连接；所述模式选择模块接收通过所述第一管脚输入的触发信号，根据所述触发信号的电平值输出第一模式选择信号到所述测试模块和/或输出第二模式选择信号到所述修调模块；所述测试模块被所述第一模式选择信号使能后对集成电路测试位进行测试，并通过所述第二管脚输出测试信息；所述修调模块被所述第二模式选择信号使能后对集成电路修调位进行修调。