发明名称 |
硅晶片的制造方法 |
摘要 |
本发明是一种硅晶片的制造方法,其特征在于,具有对原料硅晶片进行双面研磨的工序,该进行双面研磨的工序是在根据化学气相生长法于原料硅晶片的一个面上生长出氧化膜后,以下述的研磨布进行研磨:对氧化膜表面侧,使用一种涂布胺基甲酸乙酯树脂后经过湿式凝固与发泡而成的仿麂皮系研磨布或是将不织布含浸于胺基甲酸乙酯树脂中而成的丝绒系研磨布,且这些研磨布的阿斯卡C橡胶硬度为50°以上且未满90°;而对研磨未生长氧化膜的表面的一侧,使用胺基甲酸乙酯树脂单发泡体研磨布或是将不织布含浸于胺基甲酸乙酯树脂中而成的丝绒系研磨布,且这些研磨布的阿斯卡C橡胶硬度为90°以上。由此,本发明提供了一种硅晶片的制造方法,该方法可一边抑制氧化膜的伤痕及研磨量而保持作为该掺杂物挥散防止用保护膜的品质,一边制造具有高平坦度的硅晶片。 |
申请公布号 |
CN103415913B |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201280012012.5 |
申请日期 |
2012.02.09 |
申请人 |
信越半导体股份有限公司 |
发明人 |
佐佐木拓也;桥本浩昌;佐藤一弥;佐藤歩 |
分类号 |
H01L21/304(2006.01)I;B24B37/24(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/304(2006.01)I |
代理机构 |
隆天知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
张永康;向勇 |
主权项 |
一种硅晶片的制造方法,其是在根据化学气相生长法于原料硅晶片的一个面上生长出氧化膜后,研磨未生长出该氧化膜的一侧的前述原料硅晶片的表面,而制造出具有镜面研磨面与氧化膜面的硅晶片,其特征在于,其具有:对前述原料硅晶片进行双面研磨的工序,该进行双面研磨的工序是在生长出前述氧化膜后,以下述的研磨布进行研磨:对前述氧化膜表面侧,使用一种在涂布胺基甲酸乙酯树脂后经过湿式凝固与发泡而成的仿麂皮系研磨布或是将不织布含浸于胺基甲酸乙酯树脂中而成的丝绒系研磨布,且这些研磨布的阿斯卡C橡胶硬度为50°以上且未满90°;而对研磨前述未生长出前述氧化膜的表面的一侧,使用胺基甲酸乙酯树脂单发泡体研磨布或是将不织布含浸于胺基甲酸乙酯树脂中而成的丝绒系研磨布,且这些研磨布的阿斯卡C橡胶硬度为90°以上。 |
地址 |
日本东京都 |