发明名称 新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置及试验方法
摘要 新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置及试验方法,该装置包括支架、单颗磨粒划刻系统、超声振动系统、工业摄像机、高速摄像机、显示器、测力仪和数据处理系统;该方法包括以下步骤:工件安装在工装上,工装与超声振动系统的变幅杆相连接,工装并固定在测力仪上,测力仪固定在精密磨床的工作台上;利用工业摄像机对刀;启动精密磨床和超声振动系统;测力仪对试验过程中工件受力情况进行检测和记录,并将数据传输到计算机;高速摄像机对磨削过程中磨粒的运动轨迹、材料的微观变化过程以及去除过程进行在线观测和记录。本发明实时观测普通及超声辅助振动单颗磨粒的划刻过程,为研究陶瓷材料去除机理以及表面及边界质量的研究提供数据支持。
申请公布号 CN105445132A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201511015483.3 申请日期 2015.12.31
申请人 河南理工大学 发明人 赵明利;聂立新;赵波;向道辉;晁政;郭秋成;吕晓峰
分类号 G01N3/58(2006.01)I 主分类号 G01N3/58(2006.01)I
代理机构 郑州豫开专利代理事务所(普通合伙) 41131 代理人 朱俊峰
主权项 新型超声振动辅助单颗磨粒划刻试验装置,包括精密磨床,精密磨床包括工作台和沿前后水平方向设置的主轴,精密磨床上设有操控工作台沿X、Y、Z方向移动的进给微调机构,其特征在于:还包括支架、单颗磨粒划刻系统、超声振动系统、工业摄像机、高速摄像机、显示器、测力仪和数据处理系统;测力仪和工业摄像机均设在工作台上,超声振动系统和数据处理系统均位于测力仪一侧,工业摄像机和显示器位于测力仪另一侧,高速摄像机设在支架上,支架设在精密磨床一侧;单颗磨粒划刻系统包括圆环形的刻划盘,刻划盘上中心对称设有金刚石刻划笔和配重块,刻划盘同轴向设在精密磨床的主轴上;超声振动系统包括变幅杆、换能器、发生器电源和工装;工装设在测力仪上,发生器电源通过电线与换能器连接,变幅杆呈圆锥形或阶梯型结构,换能器与变幅杆的较小端连接,变幅杆的较大端与工装一侧连接;数据处理系统包括依次通过数据线连接的电荷放大器、数据采集卡和计算机,电荷放大器的数据采集端与测力仪的数据输出端连接;工装上装夹有工件,工业摄像机和高速摄像机的镜头朝向金刚石刻划笔与工件的接触处,工业摄像机与显示器通过信号线连接,高速摄像机自带显示设备。
地址 454003 河南省焦作市高新区世纪大道2001号