发明名称 透光膜的检测系统及其检测方法
摘要 一种透光膜的检测系统及其检测方法,其中检测系统用以检测透光膜的膜厚是否异常,包括一基准件、一驱动装置、一摄像装置及一处理器。该基准件位于该透光膜的一侧,且具有一检测面朝向该透光膜,而该检测面上设有多条间隔排列的检测线。该驱动装置带动该透光膜相对该基准件移动。该摄像装置位于该透光膜的另一侧,且朝向该透光膜以及该基准件,并持续地拍摄该透光膜受该驱动装置带动而移动时,该基准件通过该透光膜所显示具有间隔排列的线条的影像。该处理器电性连接该摄像装置,并比对线条影像是否产生歪曲,以判断该透光膜的膜厚是否异常。
申请公布号 CN105444683A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201410424229.8 申请日期 2014.08.26
申请人 达观科技有限公司 发明人 冯兆平
分类号 G01B11/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/06(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种透光膜的检测系统,用以检测一透光膜的膜厚是否异常,该检测系统包括:一基准件,位于该透光膜的一侧,且具有一检测面朝向该透光膜,而该检测面上设有多条间隔排列的检测线,且所述检测线的颜色不同于该检测面的颜色;一驱动装置,与该透光膜连接,以带动该透光膜相对该基准件移动;一摄像装置,位于该透光膜的另一侧,且朝向该透光膜以及该基准件,并用以持续地拍摄该透光膜受该驱动装置带动而移动时,该基准件通过该透光膜所显示具有间隔排列的线条的影像;以及一处理器,电性连接该摄像装置,并比对该摄像装置持续拍摄取得的线条影像是否产生歪曲,以判断该透光膜的膜厚是否异常。
地址 中国台湾台中市