发明名称 一种芯片视觉检测系统
摘要 本发明提供一种芯片视觉检测系统,利用安装有芯片的芯片框架在导轨上移动,并利用设置在导轨上的像机对芯片框架中的芯片进行拍照,从而获取芯片图像,并利用图像检测系统对芯片图像进行处理,判断芯片是否合格,本发明利用上述芯片视觉检测系统可以对芯片进行机器自动检测,克服了现有检测技术中个,采用人为判断芯片合格与否的不足,而且相比人工检测的方式,更加高效。
申请公布号 CN105448782A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201510919829.6 申请日期 2015.12.14
申请人 重庆远创光电科技有限公司 发明人 李志远;耿世慧;李熙春
分类号 H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 尹丽云
主权项 一种芯片视觉检测系统,其特征在于,包括:导轨,适于提供移动路径;芯片框架,包括两列相互平行的供放置芯片的安装位和位于两列安装位之间的多个通孔,适于将放置在安装位上的芯片沿导轨提供的移动路径移动以将放置在安装位上的芯片运送至预设位置,其中,所述通孔的数量和每列安装位的数量相同;图像获取装置,包括传感器和像机,所述传感器设置于所述导轨的下方,且所述像机与所述传感器正对地设置于轨道上方,适于在芯片框架沿所述导轨移动时传感器通过所述芯片框架上的通孔来触发所述像机对放置在安装位上的芯片进行拍照,并将所获取的芯片图像予以输出;图像检测系统,连接图像获取装置,适于将所述芯片图像输入检测模型中进行识别,以确定芯片图像所对应的芯片是否合格。
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