发明名称 |
一种腔室环境的控制方法 |
摘要 |
本发明提供了一种腔室环境的控制方法,包括以下步骤:步骤S1,向腔室内通入预清洗气体,对腔室的内表面进行清洗;步骤S2,向腔室内通入第一气体,以在腔室内表面上沉积第一涂层,第一涂层不含氟;步骤S3,将待加工的基片传输至腔室内进行工艺,且在工艺完成后,将其移出腔室;步骤S4,向腔室内通入第二清洗气体,并将第二清洗气体激发形成等离子体,以去除在步骤S3中腔室内表面形成的副产物;步骤S5,向腔室内通入不含氟的第一清洗气体,并将第一清洗气体激发形成等离子体,以去除第一涂层来恢复所述腔室环境。该方法可以避免氟对腔室内表面腐蚀,还可使腔室从根本上消除氟记忆效应,因而实现每次工艺的腔室环境的一致性。 |
申请公布号 |
CN105448634A |
申请公布日期 |
2016.03.30 |
申请号 |
CN201410431127.9 |
申请日期 |
2014.08.28 |
申请人 |
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
发明人 |
陈永远 |
分类号 |
H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;张天舒 |
主权项 |
一种腔室环境的控制方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,向腔室内通入预清洗气体,对腔室内表面进行清洗;步骤S2,向所述腔室内通入第一气体,以在所述腔室内表面上沉积第一涂层,所述第一涂层不含氟;步骤S3,将待加工的基片传输至所述腔室内进行工艺,且在所述工艺完成后,将其移出所述腔室;步骤S4,向所述腔室内通入第二清洗气体,并将所述第二清洗气体激发形成等离子体,以去除在所述步骤S3中腔室内表面形成的副产物;步骤S5,向所述腔室内通入不含氟的第一清洗气体,并将所述第一清洗气体激发形成等离子体,以去除所述第一涂层来恢复所述腔室环境。 |
地址 |
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号 |