发明名称 一种腔室环境的控制方法
摘要 本发明提供了一种腔室环境的控制方法,包括以下步骤:步骤S1,向腔室内通入预清洗气体,对腔室的内表面进行清洗;步骤S2,向腔室内通入第一气体,以在腔室内表面上沉积第一涂层,第一涂层不含氟;步骤S3,将待加工的基片传输至腔室内进行工艺,且在工艺完成后,将其移出腔室;步骤S4,向腔室内通入第二清洗气体,并将第二清洗气体激发形成等离子体,以去除在步骤S3中腔室内表面形成的副产物;步骤S5,向腔室内通入不含氟的第一清洗气体,并将第一清洗气体激发形成等离子体,以去除第一涂层来恢复所述腔室环境。该方法可以避免氟对腔室内表面腐蚀,还可使腔室从根本上消除氟记忆效应,因而实现每次工艺的腔室环境的一致性。
申请公布号 CN105448634A 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201410431127.9 申请日期 2014.08.28
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 陈永远
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 彭瑞欣;张天舒
主权项 一种腔室环境的控制方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,向腔室内通入预清洗气体,对腔室内表面进行清洗;步骤S2,向所述腔室内通入第一气体,以在所述腔室内表面上沉积第一涂层,所述第一涂层不含氟;步骤S3,将待加工的基片传输至所述腔室内进行工艺,且在所述工艺完成后,将其移出所述腔室;步骤S4,向所述腔室内通入第二清洗气体,并将所述第二清洗气体激发形成等离子体,以去除在所述步骤S3中腔室内表面形成的副产物;步骤S5,向所述腔室内通入不含氟的第一清洗气体,并将所述第一清洗气体激发形成等离子体,以去除所述第一涂层来恢复所述腔室环境。
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