发明名称 镭射平面度量测系统及方法
摘要 一种镭射平面度量测方法,包括:将量测工件所需的治具装夹到量测设备的工作台上并固定,建立坐标系,其中,该量测设备带有两个镭射头;于工件的水平、垂直方向各设置两组扫描点,每组扫描点由起始点和结束点组成;将量测设备的工作台分别移动到各组扫描点,控制两个镭射头从各组的起始点扫描至结束点,并记录各扫描点的X、Y、Z轴坐标值;根据上述各扫描点的X、Y、Z轴坐标值校准所述坐标系;控制镭射头分别量测上述两个工件;根据校准后的坐标系及量测数据计算各工件的平面度;及根据预设的范围判断各工件的平面度是否合格,并提示判断结果。本发明还提供一种镭射平面度量测系统。利用本发明可提高量测效率。
申请公布号 CN102721380B 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201110078574.7 申请日期 2011.03.30
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 张旨光;袁忠奎;蒋理;薛晓光
分类号 G01B11/30(2006.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人 谢志为
主权项 一种镭射平面度量测方法,其特征在于,该方法包括步骤:将量测工件所需的治具装夹到量测设备的工作台上并固定,建立坐标系,其中,该量测设备带有两个镭射头,用于量测安装在治具上的两个相同工件;于工件的水平方向和垂直方向各设置两组扫描点,每组扫描点由起始点和结束点组成;将量测设备的工作台分别移动到各组扫描点,控制两个镭射头从各组的起始点扫描至结束点,并记录各扫描点的X、Y、Z轴坐标值;根据上述各扫描点的Z值有无数据判断镭射头是否取到点,求取各组中第一个有Z数据的点与最后一个有Z数据的点的中点;连接水平方向上的两个中点和垂直方向上的两个中点后得到一个交点,以该交点为原点,以所连成的两条线为X轴和Y轴建立坐标系,得到校准后的坐标系;控制所述镭射头分别量测上述两个工件;根据所述校准后的坐标系及量测数据计算各工件的平面度;及根据预设的范围判断各工件的平面度是否合格,并提示判断结果。
地址 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号