发明名称 一种电子标签匹配阻抗的测量方法及系统
摘要 本发明涉及一种电子标签匹配阻抗的测量方法及系统。其中,电子标签匹配阻抗的测量方法包括:将读写器、同轴导线、测试探针、电子标签芯片依次相连,找到所述读写器能够支持所述电子标签芯片工作的最小输出功率P0;将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、经过校准的所述测试探针、所述电子标签芯片依次相连,设置所述矢量网络分析仪的输出功率为P0,通过测量获得第四回波反射值;对所述第四回波反射值进行处理,得到所述电子标签芯片的匹配阻抗。本发明的电子标签匹配阻抗的测量方法及系统,能够获得电子标签芯片在灵敏度极限时的阻抗值,从而简化电子标签的天线设计,节约设计时间和成本,提高设计精度。
申请公布号 CN103091556B 申请公布日期 2016.03.30
申请号 CN201110336651.4 申请日期 2011.10.31
申请人 国民技术股份有限公司 发明人 甘泉
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人 杨立
主权项 一种电子标签匹配阻抗的测量方法,其特征在于,包括:将读写器、同轴导线、测试探针、电子标签芯片依次相连,找到所述读写器能够支持所述电子标签芯片工作的最小输出功率P0;将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、经过校准的所述测试探针、所述电子标签芯片依次相连,设置所述矢量网络分析仪的输出功率为P0,通过测量获得第四回波反射值;对所述第四回波反射值进行处理,得到所述电子标签芯片的匹配阻抗;所述测试探针通过如下方式校准:将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、所述测试探针、探针校准件依次相连,设置矢量网络分析仪的输出功率为P0,通过测量获得此时探针校准件分别在开路、短路、50欧负载时的第三开路回波反射值、第三短路回波反射值、第三负载回波反射值;还包括:将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、所述测试探针、所述电子标签芯片依次相连,设置矢量网络分析仪的输出功率为P0,通过测量获得此时的第一回波反射值;将矢量网络分析仪、经过校准的所述同轴导线、所述测试探针依次相连,设置矢量网络分析仪的输出功率为P0,通过测量获得此时的第二回波反射值;通过对第一回波反射值、第二回波反射值、第三开路回波反射值、第三短路回波反射值、第三负载回波反射值进行处理,获得同轴导线和测试探针的衰减值L;用所述最小输出功率P0减去所述衰减值L,即得到所述电子标签芯片的灵敏度。
地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区深圳软件园3栋301、302