一种移动终端及其检测SIM卡热插拔的方法

摘要

本发明公开了一种移动终端及其检测SIM卡热插拔的方法，该方法包括检测设置在SIM卡座上的磁铁所产生的磁场的磁场强度；预设一阈值，并判断磁场强度是否小于或等于阈值；当判断结果为是时，则判定SIM卡插入SIM卡座，当判断结果为否时，则判定SIM卡从SIM卡座拔出。通过上述方式，本发明能够有效地避免SIM卡由于热插拔导致的损坏。

主权项

一种检测SIM卡热插拔的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：检测设置在SIM卡座上的磁铁所产生的磁场的磁场强度；预设一阈值，并判断所述磁场强度是否小于或等于所述阈值；当判断结果为是时，则判定所述SIM卡插入所述SIM卡座，开启所述SIM卡的电源，并进一步开启所述SIM卡的应用程序；当判断结果为否时，则判定所述SIM卡从所述SIM卡座拔出，关闭所述SIM卡的电源，并在关闭所述SIM卡的电源前进一步关闭所述SIM卡的应用程序。